機械密封干涉條紋數(shù)量的確定方法是通過光干涉法,，使用光學平晶和單色光源(如鈉光燈)進行檢測‌。具體步驟如下：

　　1.將光學平晶放置在密封端面上,，斜上方用鈉光燈照射,。檢查干涉條紋的數(shù)量，通過干涉條紋的數(shù)量即可確定密封端面的平面度‌

　　2.干涉條紋的數(shù)量與平面度有關：

　　平直的條紋表明密封端面的平面度接近光學平晶,，平面度最高,。

　　彎曲的條紋數(shù)量較少時，平面度較好;數(shù)量較多時,，平面度較差‌

　　3.不同平面度的密封端面會呈現(xiàn)不同類型的干涉條紋：

　　平直的條紋表示平面度最高,。

　　彎曲的條紋數(shù)量較少時，平面度較好,。

　　同心圓狀的干涉條紋表示端面內(nèi)外緣高低差別較大,，平面度較差
 

　　密封端面的平面度不同，條紋的種類也不同,。圖16表示了幾種平面度合格的圖像,，至于不合格的圖像各式各樣未予繪出。

　　圖16a是平直的條紋,，表明密封端面的平面度接近光學平晶的平面度,，因此這種平面度最高;圖16b是彎曲的條紋，干涉條紋數(shù)在一條以內(nèi),，即小于0.3μm;圖16c也是彎曲的條紋,，干涉條紋數(shù)為兩條，平面度在0.6μm以內(nèi);圖16d是同心圓狀的干涉條紋,，如果是從平板研磨后取下來檢驗平面度,，這說明端面的內(nèi)緣高，外緣較低,，同心圓數(shù)量越多,，其內(nèi)外緣高低差別越大。對壓力不高的密封不能超過3個同心圓(按平面度0.0009mm控制),，否則密封端面泄漏量過大,。在壓力較高的平衡型密封中，可能將密封端面推開,，因此,，如出現(xiàn)同心圓狀的條紋，不要超過2個,。

　　平面度檢驗時務必經(jīng)拋光后才能進行,，否則，表面光潔度不夠,，條紋照射不出來,，尤其對石墨環(huán)更是這樣。此外,，平晶和密封環(huán)端面要擦干凈,，不得有水分和灰塵，平晶要精心保管,，避免將面擦傷,。為了保證檢驗的精度，還應對平晶定期校驗,。